Steinert KSS® XF CLI szeparátor

Többszenzoros felismerés elemanalízissel a STEINERT KSS | XF CLI kombinált szenzoros válogatórendszerrel. A 4 szenzort (beleértve az XRF-et) kombináló rendszer megbízhatóan választja szét a nehézfémeket.

Az érzékelőkkel végzett fémfelismerésen, valamint a 3D- és színinformáción túl válogatógépünk az egyes objektumok elemi összetételét is meghatározza röntgenfluoreszcencia (XRF) segítségével.

Egyetlen válogatógéppel a legkülönfélébb feladatok is lefedhetők. Ez lehetővé teszi az egyes objektumokról több szenzor által rögzített adatok logikus összekapcsolását. Ez a kombináció ezért gyakran önálló megoldásként is integrálásra kerül feldolgozási koncepciókba. A válogatási mélység így kisebb tömegáramok esetén is jelentősen növelhető. Természetesen egyedi gépkialakítást és programozást is kínálunk.

A 3D felismerés és az XRF-technológia kombinációja lehetővé teszi a nehézfém-koncentrátumok fajtánkénti válogatását, például cinkre, rézre vagy sárgarézre. A további szenzorrendszerek bővítik az alak- vagy színinformációkból származtatható másodlagos jellemzők alapján történő válogatás lehetőségeit.

A STEINERT KSS | XF CLI a következő technológiák kombinációja:

  • = színdetektálás
  • L   = lézeres (3D) felismerés
  • I    = induktív szenzor
  • XF = röntgenfluoreszcencia (XRF)

 

Az Ön előnyei:

  • A válogatási mélység növelése
  • Értéknövelés a fémtípusok szétválasztásán keresztül
  • Különböző válogatási feladatok megoldása egyetlen géppel
  • Használható folyamatos (online) vagy szakaszos (batch) üzemben
  • Egyedi válogatási programok

Felhasználási területek

Érdekli a termék? Kérjen ajánlatot!

Ajánlatkérés

Profi-Bagger
Adatvédelmi áttekintés

Ez a weboldal sütiket használ, hogy a lehető legjobb felhasználói élményt nyújthassuk. A cookie-k információit tárolja a böngészőjében, és olyan funkciókat lát el, mint a felismerés, amikor visszatér a weboldalunkra, és segítjük a csapatunkat abban, hogy megértsék, hogy a weboldal mely részei érdekesek és hasznosak. Részletek az adatvédelmi tájékoztatóban találhatók.